| 300MHz世界最快、通过高速测量和高反复精度缩短工时、加速生产 |
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- 测量频率1MHz~300MHz
- 测量时间：最快0.5ms
- 基本精度±0.72%rdg.
- 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
- 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
- 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
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主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪IM7580专用的测试治具。
| 基本参数 |
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| 测量模式 |
LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量 |
| 测量参数 |
Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| 精度保证范围 |
100 mΩ~5 kΩ |
| 显示范围 |
Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
| 基本精度 |
Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41° |
| 测量频率 |
1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步进) |
| 测量信号电平 |
功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm
电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms
电流 ( I )模式: 0.09 mA~200.2 mArms |
| 输出阻抗 |
50 Ω (10 MHz时) |
| 显示 |
彩色TFT8.4英寸、触屏 |
| 测量时间 |
最快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值 |
| 功能 |
接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
| 接口 |
EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN
RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
| 电源 |
AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
| 体积和重量 |
主机: 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg
测试头: 61W × 55H × 24D mm, 175 g |
| 附件 |
电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1
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| 测试治具 |
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测试治具预计于2014年12月发售。
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